分會(huì)

第三分會(huì)：生物分析化學(xué)

摘要

長(zhǎng)余輝納米顆?？梢岳镁w缺陷儲(chǔ)存激發(fā)光的能量，在激發(fā)停止后繼續(xù)發(fā)光[1]。由于這種獨(dú)特的性質(zhì)，長(zhǎng)余輝納米顆粒在無背景生物成像、持續(xù)光動(dòng)力學(xué)治療等領(lǐng)域有很好的應(yīng)用前景[2]。目前普遍認(rèn)為長(zhǎng)余輝納米顆粒中的缺陷能夠捕獲光生載流子，在激發(fā)光關(guān)閉后載流子從缺陷中逃逸并復(fù)合，從而產(chǎn)生長(zhǎng)余輝發(fā)光現(xiàn)象[1]。表面缺陷普遍存在于長(zhǎng)余輝納米顆粒中[3]，然而，關(guān)于表面缺陷對(duì)長(zhǎng)余輝納米顆粒發(fā)光影響的研究卻非常少。我們證明了表面缺陷會(huì)猝滅長(zhǎng)余輝納米顆粒的余輝發(fā)光，通過熱處理或表面包覆等方法能夠有效鈍化長(zhǎng)余輝納米顆粒的表面缺陷，有效增強(qiáng)余輝發(fā)光強(qiáng)度并延長(zhǎng)余輝持續(xù)時(shí)間。相對(duì)于未鈍化的納米顆粒而言，表面鈍化的長(zhǎng)余輝納米顆粒在小鼠成像中表現(xiàn)出了更高的信噪比和靈敏度。我們的工作對(duì)揭示表面缺陷與余輝發(fā)光之間的關(guān)系具有重要價(jià)值,同時(shí)也為設(shè)計(jì)具有優(yōu)異余輝發(fā)光性能的長(zhǎng)余輝納米顆粒提供了新的思路。

關(guān)鍵詞

長(zhǎng)余輝

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