分會

第四十分會：膠體與界面化學(xué)

摘要

表面力測定可以對界面的微觀性質(zhì)以及由界面主導(dǎo)的介觀和宏觀現(xiàn)象和過程提供獨特的視角。表面力測定技術(shù)主要有三種：SFA（表面力儀）、AFM（原子力顯微鏡）膠體微球探針技術(shù)和AFM納米探針技術(shù)。雖然表面力測定得到了廣泛的研究，但一直存在實驗結(jié)果之間差異較大、與經(jīng)典理論（如DLVO理論和雙電層理論）不符的主要問題。主要表現(xiàn)為：1）不同實驗測得的范德華力（色散力）和擬合得到的Hamaker常數(shù)差異很大；2）擬合靜電力得到的電位和電荷密度極度偏低（電位甚至低于zeta電位）。我們推斷這些問題是由未考慮的系統(tǒng)誤差引起的。本文提出了表面粗糙度、表面形狀和彈性系數(shù)三個系統(tǒng)誤差來源，并提出了三種表面力測定技術(shù)中校正這些系統(tǒng)誤差的理論方法，最后給出了相應(yīng)的實驗驗證。本研究證明，本文中提到的三種系統(tǒng)誤差導(dǎo)致了現(xiàn)有研究中難于解釋實驗結(jié)果以及錯誤解讀實驗力曲線的現(xiàn)象?；谡_的系統(tǒng)誤差修正方法，可以合理解釋實驗，促進(jìn)理論研究，打開膠體與界面科學(xué)領(lǐng)域研究的新局面。

關(guān)鍵詞

靜電力;表面電位;粗糙度;形狀;彈性系數(shù)

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