分會

第二十三分會：電子結(jié)構(gòu)理論及其應(yīng)用

摘要

透熱表象在激光驅(qū)動化學(xué)，光催化，生物化學(xué)體系和太陽能材料等領(lǐng)域電子轉(zhuǎn)移和能量轉(zhuǎn)移的研究中有廣泛用途。理論上透熱態(tài)常由從絕熱到透熱（ATD）的變換而得，其中常借助一些物理可觀察量。在之前的工作中，選用一般向量特征的物理可觀察量，充分考慮此時透熱躍遷矩陣元同時具有大小和方向的特點，我們對此矩陣元進行了數(shù)學(xué)上各種可能情形的完備分析。在此基礎(chǔ)上，構(gòu)造電子轉(zhuǎn)移對應(yīng)的定域軌道間偶極矩作為近似透熱躍遷偶極矩，我們開發(fā)了Extended Mulliken-Hush（XMH）方法, 可以應(yīng)用于構(gòu)造透熱態(tài)并計算其性質(zhì)，包括電子耦合強度、勢能面及其交叉點等。XMH方法可以看成GMH方法的一個改進拓展，后者采用透熱躍遷偶極矩為零作為主要近似。計算結(jié)果表明XMH方法保持了GMH方法簡單易用的特征，同時對后者失效的體系也能給出合理結(jié)果。

關(guān)鍵詞

電子轉(zhuǎn)移;透熱態(tài);ATD變換;透熱態(tài)躍遷矩陣元;XMH方法

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